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根据Metris销售经理Steve Hursey先生的介绍，目前市场上主要有两种类型的X光，分别是透射型标靶及反射型标靶。前者能生产多倍数、高像素的图像，而后者则能提供功率大的X光。有一点要注意的是微焦点源越小，就能得到越清晰及精度越高的实时图像（请看图一）。这项技术帮助用户对部件的内部结构进行细微的观察，适用于检验PCB电子组件、小型铸件及塑料制品，方便检测材料的缺陷及装配和互连问题。
专业研发、生产、销售:测漏机,检漏机,试漏机,测漏仪,塑料瓶装袋机,垫片冲裁入盖机,客服热线：13929416960. 用户可以先用陶瓷做一个涡轮叶片模型，在上面加蜡，然后利用Metris BladeRunner 450kV系统的CT功能进行扫描。Metris系统的X光线可以完全穿透塑料及陶瓷等物料，一次性地作出全面的扫描，从内到外都能得到精密的数据。之后，通过现有PC硬件实现精准的3D数据集重构。系统可以快速全部件重构，作为一般分析之用。另外也可以针对某一个区域进行细节重构及即时CT断层创建。 Metris系统还可以即时把数据输出STL档案（点云），帮助用户节省大量把原型转换成STL档案的时间，从而减低成本。其输出的STL档案可以直接利用第三软件来开启，作为设计或逆向工程之用，让设计及改良涡轮叶片的工作事半功倍（请看图三）。
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